YÜKSEK, A. G. Et Al. 2015. ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması. 2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ , (Turkey).

YÜKSEK, A. G., ŞENADIM TÜZEMEN, E., ELAGÖZ, S., & ARSLAN, H., (2015). ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması . 2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ, Turkey

YÜKSEK, AHMET Et Al. "ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması," 2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ, Turkey, 2015

YÜKSEK, AHMET G. Et Al. "ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması." 2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ , Turkey, 2015

YÜKSEK, A. G. Et Al. (2015) . "ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması." 2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ , Turkey.

@conferencepaper{conferencepaper, author={AHMET GÜRKAN YÜKSEK Et Al. }, title={ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması}, congress name={2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ}, city={}, country={Turkey}, year={2015}}