Si (111) Alttaşı Üzerine Büyütülmüş AIN İnce Filmlerin Elipsometri Tekniği İle Optik Karakterizasyonu


Thesis Type: Postgraduate

Institution Of The Thesis: Sivas Cumhuriyet University, Teknoloji Fakültesi, Optik Mühendisliği, Turkey

Thesis Language: Turkish

Student: İlhan Karakuş

Consultant: İlkay Demir