Düşük boyutlu yarıiletkenlerde alan altında safsızlıkların diamanyetik alınganlığı


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Sivas Cumhuriyet Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Anabilim Dalı, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2009

Öğrenci: ERCAN KILIÇARSLAN

Danışman: HÜSEYİN SARİ