Nanometre kalınlıklı reaktif metal III V yarıiletken kontakların potansiyel engelinin ısıl tavlamaya ve numune sıcaklığına bağlılığı ve bu yapıların MESFET ve MOSFET devre elemanlarındaki kullanılabilirliliğinin araştırılması

---

Doğan H., Türüt A.(Yürütücü)

TÜBİTAK Projesi, 1001 - Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı, 2006 - 2009

• Proje Türü: TÜBİTAK Projesi
• Destek Programı: 1001 - Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Projelerini Destekleme Programı
• Başlama Tarihi: Mayıs 2006
• Bitiş Tarihi: Kasım 2009
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu