Si (111) Alttaşı Üzerine Büyütülmüş AIN İnce Filmlerin Spektroskopik Elipsometri Tekniği İle Optik Karakterizasyonu

Karakuş İ., Altuntaş İ., Demir İ.

9. Uluslararası Bilimsel Araştırmalar Kongresi, Fen ve Mühendislik Bilimleri, Ankara, Türkiye, 12 - 13 Aralık 2020, ss.125

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.125
  • Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet