Analysis of Experimental Data of Schottky Diode Characteristics in Wide Temperature Range Using Artificial Neural Network Modeling

Koç M., Yıldırım N., Göndük M., Koçkanat S., Doğan H.

12th INTERNATIONAL CONFERENCE ON MATERIALS SCIENCE AND NANOTECH, Sivas, Türkiye, 9 - 12 Eylül 2025, ss.62, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Sivas
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.62
• Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet