Characterization of GaAs/GaAlAs Heterostructures Grown on GaAsSubstrate using High Resolution X-ray Diffraction Method

---

Atıf İçin Kopyala

Sayrac H., SAYRAÇ M., Elagöz S.

Afyon Kocatepe Üniversitesi Fen ve Mühendislik Bilimleri Dergisi, 2020 (Hakemli Dergi)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Basım Tarihi: 2020
• Dergi Adı: Afyon Kocatepe Üniversitesi Fen ve Mühendislik Bilimleri Dergisi
• Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet