Annealing effects of ZnO thin films on p Si 100 substrate deposited newline by PFCVAD

KARA K., ŞENADIM TÜZEMEN E., ESEN R.

TURKISH JOURNAL OF PHYSICS, cilt.38, ss.238-244, 2014 (ESCI) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 38
  • Basım Tarihi: 2014
  • Doi Numarası: 10.3906/fiz-1310-3
  • Dergi Adı: TURKISH JOURNAL OF PHYSICS
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Emerging Sources Citation Index (ESCI), Scopus, TR DİZİN (ULAKBİM)
  • Sayfa Sayıları: ss.238-244
  • Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet