XRD XPS and optical characterizations of Al doped ZnO film grown on GaAs substrate

ŞENADIM TÜZEMEN E., Şahin H., KARA K., ELAGÖZ S., ESEN R.

TURKISH JOURNAL OF PHYSICS, cilt.38, ss.111-117, 2014 (ESCI)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 38
• Basım Tarihi: 2014
• Doi Numarası: 10.3906/fiz-1301-17
• Dergi Adı: TURKISH JOURNAL OF PHYSICS
• Derginin Tarandığı İndeksler: Emerging Sources Citation Index (ESCI), Scopus, TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.111-117
• Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet