Si (111) Alttaşı Üzerine Büyütülmüş AIN İnce Filmlerin Spektroskopik Elipsometri Tekniği İle Optik Karakterizasyonu
9. Uluslararası Bilimsel Araştırmalar Kongresi, Fen ve Mühendislik Bilimleri, Ankara, Türkiye, 12 - 13 Aralık 2020, ss.125, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Ankara
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.125
- Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet