Naive Bayes Yönteminde Olasılık Çarpanlarının Etkileri
Elektrik - Elektronik - Bilgisayar Mühendisliği Sempozyumu ve Fuarı (ELECO 2012), Bursa, Türkiye, 29 Kasım - 01 Aralık 2012
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Bursa
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Hayır