Naive Bayes Yönteminde Olasılık Çarpanlarının Etkileri

ORHAN U., ADEM K.

Elektrik - Elektronik - Bilgisayar Mühendisliği Sempozyumu ve Fuarı (ELECO 2012), Bursa, Türkiye, 29 Kasım - 01 Aralık 2012

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Bursa
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Hayır