Si (111) Alttaşı Üzerine Büyütülmüş AIN İnce Filmlerin Elipsometri Tekniği İle Optik Karakterizasyonu

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Sivas Cumhuriyet Üniversitesi, Teknoloji Fakültesi, Optik Mühendisliği, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2022

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: İlhan Karakuş

Danışman: İlkay Demir