Ellipsometry and Photoluminescence Characterization of MOCVD Grown AlxGa1 xAs Layers x 0 21 0 33 0 42

---

DEMİR İ., KIZILBULUt A. A., BULUt B., ELAGÖZ S.

16th International Balkan Workshop on Applied Physics and Materials Science (IBWAP 2016), Constanta, Romanya, 7 - 09 Temmuz 2016

• Yayın Türü: Bildiri
• Basıldığı Şehir: Constanta
• Basıldığı Ülke: Romanya
• Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet