ANNEALING TEMPERATURE DEPENDENT CHARACTERIZATION OF NI AU N GAN SCHOTTKY DIODE USING ARTIFICIAL BEE COLONY ALGORITHM

DOĞAN H., KOÇKANAT S., TÜRKAY Y., ŞEKER M., ÇIKAN M., ÜNSAL ÇELİMLİ D. B.

5th International Conference on Advanced Technology Sciences, 9 - 12 Mayıs 2017, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet