ANFIS Kullanılarak ZnO İnce Filmin Yansıtma Özelliklerinin Modellenmesi ve Regresyon Analizi İle Sonuçlarının Karşılaştırılması

YÜKSEK A. G., ŞENADIM TÜZEMEN E., ELAGÖZ S., ARSLAN H.

2. ULUSAL YÖNETİM BİLİŞİM SİSTEMLERİ KONGRESİ, Türkiye, 8 - 10 Ekim 2015

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet