Dependence of film thicknesses on the XRD, AFM and Transmittance Properties of NiOx

---

Hopoğlu H., Kaya D., Akyol M., Demir İ., Altuntaş İ., Ekicibil A., ...Daha Fazla

3nd International Conference on Light and Light-based Technologies (ICLLT), Ankara, Türkiye, 25 - 27 Mayıs 2022, ss.1-2, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Ankara
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.1-2
• Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet