Dependence of film thicknesses on the XRD, AFM and Transmittance Properties of NiOx


Hopoğlu H., Kaya D., Akyol M., Demir İ., Altuntaş İ., Ekicibil A., ...Daha Fazla

3nd International Conference on Light and Light-based Technologies (ICLLT), Ankara, Türkiye, 25 - 27 Mayıs 2022, ss.1-2

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.1-2
  • Sivas Cumhuriyet Üniversitesi Adresli: Evet